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MDD辰达半导体

匠人作 用良芯 高品质 选MDD

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动态

  • 发布了文章 2025-07-31 09:29

    超快恢复二极管器件串并联导致均压均流问题分析

    在电源系统、变频器及高频功率变换设备中,MDD辰达半导体的超快恢复二极管凭借其反向恢复时间短、开关损耗低的特点,广泛应用于高频整流和续流电路。但在某些大功率应用中,为了满足更高的电压或电流需求,工程师往往采用器件串联或并联的方式。然而,若忽视器件之间的特性差异及配套设计,容易引发均压均流问题,最终造成电路效率降低甚至器件失效。一、串联应用中的均压挑战当需要承
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  • 发布了文章 2025-07-30 10:09

    超快恢复二极管选型不当导致效率降低的分析与应对

    在高频、高效电源设计领域,辰达半导体超快恢复二极管凭借其极短的反向恢复时间(Trr)和低反向电流损耗,成为开关电源、逆变器、功率因数校正(PFC)等场合中的重要器件。然而,工程实践中常见因选型不当而造成的系统效率下降甚至器件失效问题,值得引起重视。本文将围绕超快恢复二极管选型失误引发的效率降低问题,结合实务经验加以解析,并给出应对建议。一、效率下降的根本原因
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  • 发布了文章 2025-07-24 09:46

    快恢复二极管串并联的工程实战案例分析

    在功率电子设计中,快恢复二极管凭借其优异的反向恢复特性,广泛应用于高频整流、电机驱动、电动车控制器、开关电源等场景。在大功率、高电压或高电流的应用中,单颗快恢复二极管可能无法满足工作需求,因此工程师常采用串联或并联方式进行扩展。然而,串并联设计并非简单的堆叠组合,实际应用中需面临诸如均压、均流、热分布等挑战。本文将结合工程案例,探讨快恢复二极管串并联的设计要
  • 发布了文章 2025-07-23 09:56

    快恢复二极管串联与并联设计:均压均流与应用挑战

    快恢复二极管凭借较短的反向恢复时间和较低的开关损耗,在高频整流、PFC电路和逆变器等应用中广泛使用。随着电源系统的功率密度不断提升,单颗二极管的耐压或电流能力往往不足,这就需要通过串联或并联的方式实现更高的耐压或电流能力。然而,FRD在串并联应用中会面临均压、均流以及热稳定性的挑战。一、串联应用:提高耐压能力问题背景单颗快恢复二极管的反向耐压(VRRM)通常
  • 发布了文章 2025-07-17 10:57

    如何通过实验测试验证整流二极管在极端环境下的可靠性?

    为确保整流二极管在高温、高湿、振动、冲击等极端环境下的可靠性,需通过一系列标准化实验测试进行验证。以下结合国际测试标准与工程实践,系统介绍测试方法及实施要点:??一、环境应力测试????1.高温存储测试(HTSL)????目的??:评估高温对材料老化的影响。??测试条件??:温度:150℃(硅器件)或175℃(SiC器件)时长:168–1000小时(不通电)
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  • 发布了文章 2025-07-16 10:51

    在高温或高振动环境下,整流二极管的降额曲线应该如何调整?

    在高温或高振动环境下,整流二极管的降额曲线需结合热力学和机械应力进行综合调整,以确保长期可靠性。以下是具体调整策略及设计要点:一、高温环境下的降额曲线调整1.温度对电流能力的限制整流二极管的额定电流随环境温度升高而显著下降,需遵循“温度-电流降额曲线”:降额原理:结温(Tj)是核心限制参数。硅二极管最高结温通常为125℃~175℃,需满足:Tj=Ta+(IF
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  • 发布了文章 2025-07-08 09:43

    浅谈辰达MOSFET在USB PD快充电源中的应用挑战与应对

    在USBPD快充电源设计中,MOSFET作为功率控制与转换的核心器件,发挥着关键作用。随着充电功率向65W、100W甚至更高迈进,对MOSFET的性能提出了更严苛的挑战。本文将从应用挑战出发,结合FAE工程实践,分析MOSFET在USBPD快充中的关键设计要求与应对策略。一、应用背景:MOSFET在USBPD快充中的位置USBPD(PowerDelivery
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  • 发布了文章 2025-07-07 10:23

    MOSFET与IGBT的选择对比:中低压功率系统的权衡

    在功率电子系统中,MOSFET和IGBT是两种常见的开关器件,广泛应用于中低压功率系统。它们各有优缺点,适用于不同的应用场景。作为FAE,帮助客户理解这些器件的特性、差异和应用场景,能够有效提高系统设计的效率与稳定性。本文将详细分析MOSFET与IGBT的选择对比,特别是在中低压功率系统中的权衡。一、MOSFET与IGBT的基本原理MOSFET工作原理:MO
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  • 发布了文章 2025-07-04 10:03

    并联MOSFET设计指南:均流、寄生参数与热平衡

    在现代高效电源设计中,MOSFET并联技术广泛应用于要求大电流承载能力的电路中,如电动汽车、电源供应、功率放大器等。通过并联多个MOSFET,可以大幅提高电路的电流处理能力、降低导通损耗,并增强系统的整体可靠性。然而,MOSFET并联设计并非简单的“多加几个”过程,必须考虑到均流、寄生参数与热平衡等诸多因素。本文将探讨如何在实际设计中有效应对这些挑战,优化并
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  • 发布了文章 2025-07-03 09:42

    同步整流MOSFET的设计要点与效率提升技巧

    在现代高效率电源系统中,同步整流技术已成为主流选择,尤其是在DC-DC变换器、USB快充适配器、服务器电源和车载电源等场景中。同步整流相比传统的肖特基二极管整流,能够显著降低导通损耗,提高转换效率。其核心器件——MOSFET,在设计中扮演着至关重要的角色。本文将深入探讨同步整流MOSFET的选型要点和提升效率的设计技巧。一、同步整流的基本原理传统整流使用二极

企业信息

认证信息: MDD辰达半导体

联系人:陈小姐

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地址:龙华区民塘路328号鸿荣源北站中心B座13楼

公司介绍:      深圳辰达半导体是一家专注于半导体分立器件研发设计、封装测试及销售的国家高新技术企业。      公司深耕半导体领域16载,始终坚持以产品技术为驱动,以客户需求为核心,打造涵盖MOSFET、二极管、三极管、整流桥、SiC等全系列、高可靠、高性能的产品服务矩阵,产品广泛应用于新能源汽车、工业控制、消费电子、通信、家电、医疗、照明、安防、仪器仪表等多个领域,服务于全球40多个国家与地区。      公司秉持与时俱进的发展理念,基于目前先进的功率器件设计及封装测试能力,持续关注前沿技术及应用领域发展趋势,全面推动产品升级迭代,提高功率器件产业化及服务闭环的能力,为客户提供可持续、全方位、差异化的一站式产品解决方案。      展望未来,公司将依托行业洞察的能力,通过品牌与技术双轮驱动,快速实现“打造半导体分立器件国际创领品牌”的发展愿景,助力中国半导体产业升级。

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